J750Ex-HD家庭

J750Ex-HD:单片机测试解决方案

微控制器单元(mcu)用于汽车、移动电子和机器人。当你度过你的一天，数十个mcu在你的电子设备工作，提供独特的功能和Teradyne的J750家族最有可能测试他们。betway桌面应用随着安装基数的增长6000年Teradyne的J750是低成本设备大容量测试的行业标准，在50多个外包组装和测试(OSAT)地点广泛可用。betway桌面应用

为什么J750ExHD在单片机测试中占主导地位?J750在1998年首次引进。betway桌面应用Teradyne过去和现在都专注于减少单站点测试时间和优化并行测试效率，以降低测试成本，同时保持平台的跨代兼容性。J750系列是运行时间最长的active ATE产品，在其整个生命周期内保持兼容性，同时提供新的仪器以提供更高的性能和更低的测试成本。J750Ex-HD是目前市场上提供最高水平并行度和性能的最新产品。

在竞争激烈的半导体市场，降低测试成本至关重要。与具有竞争力的产品相比，J750Ex-HD系列降低了25-50%的测试成本，具有更高的吞吐量和增加的站点数。高密度(HD)系列仪器和软件提供了更高的站点数，提供了最快的路径，以最低的成本进行测试。

最快的盈利时间

屡获殊荣的IG-XL™软件与竞争对手ATE软件系统相比，能使多站点测试程序的开发速度提高30%。与其他ATE编程语言相比，IG-XL专注于提高效率，所需的代码行数减少了50%。软件环境鼓励代码重用，并且通过不需要编译代码的语言大大增强了实时调试经验。由于软件在J750Ex-HD系列中无缝传输，通过利用当前的对接接口进行生产现场集成，降低了生产实施的风险。

J750Ex-HD以其“零足迹”设计而闻名，最大限度地减少宝贵的制造地板空间的使用。该测试系统具有2048个多功能引脚和高达400 MHz/800 Mbps的数据速率的可扩展性，使其成为具有越来越多功能集成的低成本设备的理想选择。

汽车微控制器的测试质量

J750EX-HD是汽车MCU测试最成熟和市场经过验证的平台。测试系统旨在提供可重复的设备测试结果，并配备软件工具，以帮助验证测试程序以提供最高质量的测试，这在汽车市场中至关重要。测试程序验证工具套件可防止编程错误和意外程序更改。独特的仪器监控功能避免了对设备的潜在损坏，并且三温探头界面意味着汽车设备可以在冷（-25至-45°），环境和热（120-12°C）温度下进行测试。