内存测试软件
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betway桌面应用Teradyne的客户指望我们为我们的近期设备进行了测试（DUT）技术，为记忆设备制造商提供了保证性能优势。动态内存和存储内存设备的简要说明将突出显示设备制造商依赖于Teradyne的内存测试解决方案。betway桌面应用
动态内存也可以称为易失性内存。使用双数据速率(DDR)技术，这种类型的内存只在设备供电时维护其数据。还有一种非常高速的存储器称为图形双数据速率(gdr)存储器，它与图形处理器(GPU)一起工作，可以显示数千种颜色的超高分辨率图像。
因此，以笔记本电脑为例，中央处理单元(CPU)使用动态内存来完成工作。内存需要与处理器保持同步，因为它需要处理执行一些功能的数据，比如运行计算机应用程序、跨网络通信和与图形处理器一起工作以显示信息。CPU越快意味着内存越快。您的笔记本电脑的运行速度将与CPU或内存的运行速度一致。随着处理器速度的提高，内存设备也需要跟上速度。因此，一代又一代的DDR设备被用于计算机，而低功耗双数据速率(LPDDR)被用于手机等应用程序。
另一种类型的存储设备称为存储存储器或非易失性存储器。即使电源关闭，这种内存也能存储已保存的数据。再次以您的笔记本电脑为例，USB闪存驱动器是插入USB端口的外部闪存驱动器。它是用来保存信息的记忆的次要来源。闪存的速度也在不断提高，加快了笔记本电脑的运行速度。
为什么内存设备中更快的速度与测试系统的体系结构相关或重要?一些设备测试系统的设计是在仪表板和被测设备之间用电缆传递信号。现在，测试仪器需要以越来越快的速度与DUT接口。设备被设计成在短距离内推送数据。如果仪表板是用电缆连接的，并且远离设备，它会在测试仪正在分析的设备信号中引入衰减。
betway桌面应用Teradyne的记忆测试解决方案
betway桌面应用Teradyne的Magnum内存测试解决方案采用Near DUT测试技术。仪表板位于测试接口单元和测试头延伸单元内，提供了工业上可用的DUT和测试仪器之间的最短距离。这种架构设计的突破使存储设备制造商拥有了“高速测试”的优势，可以全面测试设备的性能。它不仅提高了数据信号的完整性，还创建了一个更短的往返时延(RTD)，从而减少了Read Modify Write (RMW)模式的测试时间，并且它使更高的引脚密度能够进行更大的并行站点数测试。
Magnum的架构设计适合当今的存储设备，并准备测试未来的存储设备的速度，无论它们是LPDDR、DDR、GDDR或Flash设备。
betway桌面应用Teradyne的内存测试解决方案是专为高速、准确的数据信号而设计的，包括:
万能V
betway桌面应用Teradyne的Magnum V系统为超高性能的FLASH和DRAM存储器提供高吞吐量和高并行测试效率。Magnum V的最大配置可提供高达20,480个数字通道，每通道1600Mbps。
万能VUx
betway桌面应用Teradyne万能VUx系统是一个灵活的,betway必威国际超集所有NAND和MCP产品测试平台,这两个前沿UFS 3.0, uMCP,和作为PCIe创4移动和汽车设备,以及SSD NAND ONFI和切换,和遗留NAND闪存产品,如UFS 2.1,作为PCIe创3 e.MMC, eMCP。
万能的史诗
betway桌面应用Teradyne的Magnum Epic是一家适用于最新一代DRAM设备的高性能测试解决方案。这些设备是5G，AI，云计算，自动车辆，AR / VR和具有高清晰度图形的应用的关键推动力。