系统级测试(SLT)

什么是系统级测试(SLT)?

系统级测试(SLT)使集成电路制造商能够模拟最终用户环境,以测试软件和验证IP块之间的连接。这是一个更有效和更便宜的方式来测试I/O协议栈,IP块到块接口和不同的时钟,电源,热和硬件/软件领域的交互。

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作为芯片和封装ATE测试设备的领导者,Teradyne的Titan平台多年来一直在测试智能手机应用程序。betway桌面应用SLT也被采用在其他应用,如汽车ADAS和信息娱乐以及AI数据服务器。

随着5G、人工智能(AI)、增强现实(AR)和虚拟现实(VR)等技术的发展,半导体组件的复杂性持续增长。随着进程节点的不断缩小,集成电路设计者正在创造完整的SoC (SoC)产品,其中包含处理器核心、模拟I/O、数字I/O、调制解调器和其他IP块以及嵌入式软件。betway必威国际

这种额外的复杂性导致了越来越多的未经测试的晶体管和更长的测试时间。在晶圆和封装测试之后,利用SLT作为第三个测试过程,组件制造商可以以一种不实际的方式测试软件和验证IP块之间的连接。

SLT还提供额外的覆盖率,以满足严格的终端客户的故障率要求,以提高产品质量。因此,它补充了ATE晶圆片和封装测试的结构和功能测试。

betway桌面应用Teradyne的Titan平台提供了低成本的测试,快速的上市时间和能力,以过渡到超高容量的设备。多年来,它已被证明是移动应用程序处理器市场的一种解决方案。betway桌面应用Teradyne处于系统级测试行业变革和增长的前沿,并将继续创新,为ADAS、信息娱乐、人工智能和数据服务器、GPU和平板电脑市场带来更高的成本和质量效益。

在半导体测试流程中驱动SLT的是什么?

随着技术的演进,测试需求也在演进。例如,今天的人工智能设备可能包含数十亿个晶体管。随着过程节点的不断缩小,即使是99.5%的ATE故障覆盖率也会留下大量未测试的晶体管。SLT测试发现剩余0.5%未测试的晶体管的故障。

复杂技术增加了SoC、包内系统(SIP)和软件的复杂性。这种复杂性导致了更多的异步接口,在功率、时钟和热领域以及软件和硬件之间的更多交互。这些交互为实现99.5%的ATE故障覆盖率创造了更多的努力。SLT提供了一种更简单、更便宜的方法来测试复杂的接口。而且,通过在任务模式下运行设备,它可以测试可能存在故障的复杂交互作用。

设备制造商面临的另一个挑战是较短的上市时间和高缺陷的新设备工艺。这就导致在生产过程仍然有很高的不良率的情况下必须运输产品,并且需要识别缺陷来运输高质量的产品。SLT使工程师能够在设备开发的早期实现更好的故障覆盖。通过不必等待最终的工艺产量改进,这一数据对于缩短达到良好产量的时间和缩短总体上市时间至关重要。

最后,集成电路设计者正在利用前沿工艺和封装的发展优势。虽然这些发展是令人兴奋和必要的,但它们也为潜在的故障和新的故障模式带来了更多的机会。SLT能够在设备发货前捕获潜在故障,从而降低了设备的总体成本。

betway桌面应用Teradyne SLT的解决方案

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