解决方案来满足新兴测试要求

该ULTRAFLEX^加增加通过减少所需的用于IC生产测试细胞的数目的制造生产率提高15％-50％的Ultraflex^加通过提供更高的站点计数和通过减少多站点测试时间开销提高并行测试效率来实现这一点。减少测试单元的数量可以最大程度地降低总体制造成本，因为更少的测试单元意味着更少的探测仪和处理器、更少的设备功率和更少的操作人员。

betway桌面应用Teradyne还通过第三代仪器和新的设备接口板(DIB)架构提高了关键测量的准确性和一致性。而且，客户可以利用他们的资本投资，通过高度可伸缩的架构和可升级的信号传输和计算基础设施，将测试人员的寿命延长一倍。

较高的制造效率

ULTRAFLEX^加引入了创新的PACE™运行架构，以提供最高的试验小区吞吐量以最小的工程设计工作。PACE实现该更高的数据带宽，以仪器的硬件和一个分布式多控制器（DMC）的计算体系结构。多核系统控制器保持有效和协调工作更高的吞吐量仪器。通过与较高的网站数和改进的并行测试效率提高了生产效率，制造商能够部署15个％-50％较少的测试单元。

宽边™应用程序接口

在UltraFLEX上的“侧面”应用程序接口^加通过简化DIB路由，并提供显著改善网站站点相关提供更快的产品上市时间。宽边DIB结构旋转仪器板90度相比于传统的ATE所以仪器资源并行传送到设备的应用区域。这意味着每个站点更好的匹配信号路径。通过简化典型什么是一个复杂的DIB布局，有更快的上市时间，更高的网站数和较高的PC板的产量。

igl - xl软件的结合，独特的PACE架构和Broadside应用程序接口，使测试工程师发布新的测试程序到生产与更少的努力和更高的质量。