UltraFLEXplus SOC测试

解决方案来满足新兴测试要求

该ULTRAFLEX^加增加通过减少所需的用于IC生产测试细胞的数目的制造生产率提高15％-50％的Ultraflex^加通过减少多点测试时间开销提供更高的网站数和提高并行测试效率实现这一目的。减少测试细胞的数目提供了在整体制造成本的最大减少，因为较少的测试细胞转化成较少的探测器和处理程序，更少设施功率和较少的操作人员。

betway桌面应用Teradyne公司还具有改善的精确度，并用第三代仪器和一个新的设备接口板（DIB）架构关键测量的一致性。而且，客户可以通过一个高度可扩展的架构和可升级的信号传递加倍测试仪的寿命和计算基础设施充分利用他们的资金投入。

较高的制造效率

ULTRAFLEX^加引入了创新的PACE™运行架构，以提供最高的试验小区吞吐量以最小的工程设计工作。PACE实现该更高的数据带宽，以仪器的硬件和一个分布式多控制器（DMC）的计算体系结构。多核系统控制器保持有效和协调工作更高的吞吐量仪器。通过与较高的网站数和改进的并行测试效率提高了生产效率，制造商能够部署15个％-50％较少的测试单元。

宽边™应用程序接口

上的UltraFlex的“宽边”应用程序接口^加通过简化DIB路由，并提供显著改善网站站点相关提供更快的产品上市时间。宽边DIB结构旋转仪器板90度相比于传统的ATE所以仪器资源并行传送到设备的应用区域。这意味着每个站点更好的匹配信号路径。通过简化典型什么是一个复杂的DIB布局，有更快的上市时间，更高的网站数和较高的PC板的产量。

IG-XL软件的结合，独特的PACE架构和宽边应用程序接口使测试工程师发布新的测试程序投入生产以较少的努力和更高的质量。