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马格南EPIC

用于内存设备测试的超高性能解决方案

betway桌面应用泰瑞达的万能EPIC是最新一代的DRAM设备高性能的测试解决方案。这些设备对于像5G,人工智能,云技术关键使能计算,自主车,AR / VR和高清晰度图形应用程序。

像LPDDR5、DDR5、LPDDR4x和Graphics DDR这样的DRAM设备产量大,并且要求较高的并行测试效率。当前和未来的几代高速DRAM设备也要求测试解决方案具有出色的信号完整性。

测试下一代存储设备

让我们使用5G为例,对吞吐量的新一代5G移动网络承诺的改善和延迟许多订单超过4G以上。5G将启用多媒体和VR / AR应用惊人的可能性。为了实现这些可能性,移动设备将需要先进的DRAM解决方案,以跟上速度要求。

传统的存储器测试器架构具有用于测试(DUT)下分配高速信号到设备的限制。它使用信号仪器(引脚电子)和设备特定适配器(DSA)或加载板用于信号输送之间的长电缆。这种方法降低了信号传递到DUT由于信号衰减质量。

近DUT测试技术

那么,如何马格南EPIC提高高数据速率,其新的DRAM器件需要的信号完整性性能?

Magnum EPIC采用革命性的近DUT测试(NDT)技术,其中信号仪表(Pin电子)直接与DSA接口,从而消除了用于信号传输的传统长电缆。因此,Teradyne的创betway桌面应用新无损检测技术在最高的数据速率下提供了最佳的信号完整性性能。此外,NDT技术大大缩短了往返延迟(RTD)时间,从而减少了读修改写(RMW)模式的测试时间。

Magnum EPIC还支持高级特性,如测试最新DRAM设备所需的源同步。源同步增加了DUT输出DQ信号的眼睛大小,从而实现更高的产量和提高利润率。

配置

马格南EPIC SSV

betway桌面应用泰瑞达的万能EPIC SSV是最后的测试应用程序配置的生产测试系统。与(每个通道在7Gbps)在18.4K高速数字频道和2K设备电源通道,测试系统最大化所需的高容量DRAM装置并行测试的能力。该系统可以具有多达128个包含一个模式发生器144和高速数字销内存测试单位(MTU)来配置。

万能史诗电动车

万能EPIC EV是测试程序开发和调试一个自包含的工程测试系统。它是一个具有多达1152高速数字销(每通道7Gbps)配置的。测试程序和设备特定适配器(DSA)与玛格南EPIC SSV生产系统完全兼容。

对于每一个测试器配置,很容易,同时保持DSA和测试程序兼容性升级。

高速DRAM器件的生产和检定测试

Magnum EPIC利用了ATE软件的行业标准Magnum套件。它的易用性极大地帮助了测试程序的开发、调试以及从培养阶段到生产阶段的平稳过渡。

此外,Magnum EPIC支持多芯片封装(MCP)设备(LPDDR和NAND在一个封装中)的并发测试;从而进一步提高并行测试效率。