马格南EPIC
马格南EPIC
超高性能的解决方案存储设备测试
betway桌面应用泰瑞达的万能EPIC是最新一代的DRAM设备高性能的测试解决方案。这些设备对于像5G，人工智能，云技术关键使能计算，自主车，AR / VR和高清晰度图形应用程序。
像LPDDR5，DDR5，LPDDR4x与图形DDR DRAM器件在大体积生产的，并且需要高并行测试效率。高速DRAM设备的当前和未来几代也需要从测试溶液中出色的信号完整性性能。
测试下一代存储设备
让我们使用5G为例，对吞吐量的新一代5G移动网络承诺的改善和延迟许多订单超过4G以上。5G将启用多媒体和VR / AR应用惊人的可能性。为了实现这些可能性，移动设备将需要先进的DRAM解决方案，以跟上速度要求。
传统的记忆体测试体系结构在分配高速信号给被测设备(DUT)方面存在局限性。它使用长电缆之间的信号仪器(Pin电子)和设备特定适配器(DSA)或负荷板的信号传递。由于信号衰减，这种方法降低了传输到被测对象的信号质量。
近DUT测试技术
那么，如何在马格南EPIC提高高数据速率，其新的DRAM器件需要的信号完整性性能？
马格南EPIC利用革命性近DUT测试（NDT）技术，其中信号仪器（引脚电子）直接与DSA接口，从而消除用于信号输送的长传统电缆。其结果是，泰瑞达的创新无损betway桌面应用检测技术提供的最高数据速率最佳的信号完整性性能。此外，无损检测技术成果在更短的往返延迟（RTD）时间，从而降低测试时间读 - 修改 - 写（RMW）模式。
马格南EPIC还支持先进的功能，如源同步测试最新的DRAM设备所需。源同步增加了DUT输出DQ信号的眼的大小，从而使较高的产率和提高利润。
配置
马格南EPIC SSV
betway桌面应用泰瑞达的万能EPIC SSV是最后的测试应用程序配置的生产测试系统。与（每个通道在7Gbps）在18.4K高速数字频道和2K设备电源通道，测试系统最大化所需的高容量DRAM装置并行测试的能力。该系统可以具有多达128个包含一个模式发生器144和高速数字销内存测试单位（MTU）来配置。
马格南EPIC EV
万能EPIC EV是测试程序开发和调试一个自包含的工程测试系统。它是一个具有多达1152高速数字销（每通道7Gbps）配置的。测试程序和设备特定适配器（DSA）与玛格南EPIC SSV生产系统完全兼容。
对于每一个测试器配置，很容易，同时保持DSA和测试程序兼容性升级。
高速DRAM器件的生产和检定测试
马格南EPIC利用ATE软件的行业标准万能套件。它的易用性大大有助于测试程序开发，调试和平稳过渡，从调高到生产阶段。
此外，马格南EPIC支持多芯片封装（MCP）的设备（LPDDR和NAND在一个包）的并发测试;从而进一步增加了并行测试的效率。