万能的史诗
用于存储器件测试的超高性能解决方案
betway桌面应用Teradyne的Magnum EPIC是最新一代DRAM设备的高性能测试解决方案。这些设备是5G、人工智能、云计算、自动驾驶汽车、AR/VR和高清图形应用等技术的关键使能器。
LPDDR5，DDR5，LPDDR4X和图形DDR等DRAM设备以大容量产生，需要高并行测试效率。高速DRAM设备的当前和后代还需要从测试解决方案中出现出色的信号完整性性能。
测试下一代存储设备
以5G为例，下一代5G移动网络承诺在吞吐量和延迟方面的改善要比4G高很多。5G将为多媒体和VR/AR应用带来惊人的可能性。为了实现这些可能性，移动设备将需要先进的DRAM解决方案来满足速度要求。
传统的记忆测试器架构具有对被测设备（DUT）的设备分配高速信号的限制。它使用信号仪器（PIN电子设备）和设备特定适配器（DSA）或负载牌之间的长电缆进行信号传送。由于信号衰减，这种方法会降低传递到DUT的信号的质量。
靠近DUT测试技术
所以，怎么样万能的史诗提高高数据速率的信号完整性性能，新的DRAM设备需要哪些?
Magnum Epic利用革命性的DUT测试（NDT）技术，其中信号仪器（PIN电子）直接与DSA接口，从而消除了用于信号传递的长传统电缆。因此，Teradyne的创betway桌面应用新性NDT技术以最高数据速率提供最佳信号完整性性能。此外，NDT技术会导致往返延迟（RTD）时间更短，这降低了读取修改写入（RMW）模式的测试时间。
Magnum Epic还支持测试最新DRAM设备所需的源同步等高级功能。源同步增加DUT输出DQ信号的眼睛尺寸，从而使得更高的产量和改善边距。
配置
万能史诗科学
betway桌面应用Teradyne公司的Magnum EPIC SSV是用于最终测试应用的可配置生产测试系统。超过18.4K高速数字通道(每通道7Gbps)和2K设备电源通道，测试系统最大限度地提高了大容量DRAM设备所需的并行测试容量。该系统可配置多达128个内存测试单元(mtu)，其中包含一个图形发生器和144个高速数字引脚。
Magnum EpiC EV.
Magnum EPIC EV是一个独立的工程测试系统，用于测试程序的开发和调试。它可配置高达1152高速数字引脚(每通道7Gbps)。测试程序和设备专用适配器(DSA)与Magnum EPIC SSV生产系统完全兼容。
对于每个测试器配置，它很容易升级，同时保持DSA和测试程序的兼容性。
高速DRAM设备的生产和特征测试
Magnum Epic利用行业标准的ATE软件套件。它的易用性极大地帮助测试程序开发，调试和从提升到生产阶段的平滑过渡。
此外，Magnum Epic支持多芯片封装（MCP）设备的并发测试（在一个包装中的LPDDR和NAND）;因此，进一步提高了并行测试效率。